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SF6綜合分析儀的綜合測(cè)試方案簡(jiǎn)介

點(diǎn)擊次數(shù)：1972 更新時(shí)間：2020-07-03

　　SF6綜合分析儀主要用于檢測(cè)SF6與空氣或SF6與N2混合氣體中的SF6氣體純度(既百分含量)。儀器采用*帶溫度補(bǔ)償?shù)奈⑿蜔釋?dǎo)池，可快速準(zhǔn)確地測(cè)出SF6純度，壽命可達(dá)十年。帶溫度補(bǔ)償?shù)拈L(zhǎng)壽命微型熱導(dǎo)傳感器檢測(cè)SF6氣體純度，不但解決了溫漂問(wèn)題（即在不同環(huán)境溫度下檢測(cè)同一氣體其結(jié)果相差很大），而且不受環(huán)境溫度影響，精度更高，穩(wěn)定性更好。

　　SF6綜合分析儀帶溫度補(bǔ)償?shù)拈L(zhǎng)壽命微型熱導(dǎo)傳感器；精度更高，穩(wěn)定性更好，不受環(huán)境溫度影響；內(nèi)置穩(wěn)壓閥和電子質(zhì)量流量計(jì)；液晶圖形直觀顯示；交直流兩用，內(nèi)置充電器及鋰電池組；鋁合金殼體，輕巧便攜易操作。

　　SF6綜合分析儀的綜合測(cè)試方案：

　　SF6氣體綜合測(cè)試方案包括濕度、含氣量、耐壓強(qiáng)度以及SF6分解產(chǎn)物含量等測(cè)試項(xiàng)目。

　　GIS設(shè)備中的大功率電弧放電、火花放電、電暈或局部放電均會(huì)引起SF6氣體分解。其中的氣態(tài)分解產(chǎn)物可造成對(duì)固體材料的腐蝕，而集聚于絕緣支撐表面的固態(tài)分解產(chǎn)物吸收氣體中的水分后會(huì)使閃絡(luò)電壓下降。水分是SF6氣體中危害大的雜質(zhì)，主要的來(lái)源為新SF6氣體中的水分、充氣管路中的水分、安裝時(shí)帶入的水分、固體材料析出的水分以及運(yùn)行中大氣滲入的水分等。采用SF6的混合絕緣氣體（SF6/N2）時(shí)，可測(cè)定SF6氣體與氮?dú)鉂舛缺壤?/div>

　　SF6綜合分析儀可對(duì)SF6氣體樣品進(jìn)行濕度及耐壓試驗(yàn)，其中的耐壓試驗(yàn)是在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓1/10的氣隙條件下進(jìn)行。

　　為確保在氣體采樣過(guò)程中氣樣不受污染，開(kāi)發(fā)了便攜式現(xiàn)場(chǎng)氣體取樣裝置。使用該裝置可避免氣樣泄漏及污染。

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